【時報記者林資傑台北報導】半導體測試設備商愛德萬測試（Advantest）宣布推出針對V93000 EXA Scale平台設計的升級版數位測試解決方案Pin Scale 5000B，專為先進人工智慧（AI）與高效運算（HPC）元件日益增加的測試需求打造，已獲主要客戶青睞導入量產。

　隨著先進製程節點、異質整合與小晶片（chiplet）架構持續發展，AI及HPC半導體功能與複雜度快速成長。此類元件對結構性與功能性測試覆蓋率的要求大大提高，同時需處理急遽增加的測試資料量。

　愛德萬測試表示，Pin Scale 5000B測試卡大幅擴增搭載的向量記憶體，提供具深度且具可擴充的儲存能力，並透過軟硬體設計提升小晶片架構的記憶體使用效率，有助降低客戶整體系統資源消耗與相關成本，並滿足未來日益成長的記憶體需求。

　測試架構方面，Pin Scale 5000B支援現代掃描架構，可透過串流方式同步測試多個IP核心。新硬體功能可在單一測試向量執行期間同步觀察跨核心測試結果，即時掌握各核心間的錯誤分布，有助提升結構覆蓋率與核心層級可視性，並大幅縮短測試時間、降低測試成本。

　Pin Scale 5000B支援高頻寬測試，沿用既有Pin Scale 5000腳位訊號架構，提供高達5 Gbps的資料傳輸率，與既有Pin Scale 5000完全相容的超集合（superset），進一步豐富V93000產品組合。

　愛德萬測試V93000產品事業部執行董事暨部門經理Ralf Stoffels指出，Pin Scale 5000B在既有成熟的Pin Scale 5000測試卡基礎上補完進化，進一步擴增V93000 EXA Scale平台功能，提供客戶所需的效能與可擴充性，以因應日益複雜的元件測試需求。