【財訊快報／記者李純君報導】半導體測試機台龍頭廠之一的愛德萬測試宣布，針對V93000 EXA Scale平台設計之升級版數位測試解決方案Pin Scale 5000B，正式亮相，新方案專為因應先進人工智慧 (AI) 與高效能運算 (HPC) 元件日益增加的測試需求而打造。

隨著先進製程節點、異質整合與小晶片(chiplet)架構持續發展，AI及HPC半導體功能與複雜度亦快速成長。這類元件對結構性與功能性測試覆蓋率的要求大大提高，同時也需處理急遽增加的測試資料量。

Pin Scale 5000B測試卡大幅擴充所搭載的向量記憶體，提供具備深度且可擴充的儲存能力，符合產業需求。其軟硬體設計促進小晶片架構有效運用記憶體，有助客戶降低整體系統資源消耗與相關成本，同時滿足未來日益增長的記憶體需求。

愛德萬提到，這套解決方案可支援現代掃描架構（scan fabric architectures），透過串流方式同時測試多個IP核心。其最新硬體功能可在單一測試向量 (test pattern) 執行期間，同時觀察跨核心的測試結果，即時掌握各核心間的錯誤分布。這些功能有助提升結構覆蓋率與核心層級可視性，大幅縮短測試時間、降低測試成本(CoT)。

Pin Scale 5000B支援高頻寬測試，透過成熟的Pin Scale 5000腳位訊號架構，提供高達5 Gbps的資料傳輸率。Pin Scale 5000B是與現有Pin Scale 5000完全相容的超集合(superset)，進一步豐富V93000產品組合。Pin Scale 5000B數位測試儀器已獲主要客戶青睞導入量產。